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跟蹤式光筆測量系統高精度:憑借高精度光學傳感器技術和算法,能精確探測測量對象的幾何特征和形位公差。在 49.0m³ 范圍內,體積精度可達 0.089mm;28.6m³ 范圍內,體積精度可達 0.067mm ;10.4m³ 范圍內,體積精度可達 0.049mm。 測量范圍廣:搭配超遠可視范圍的跟蹤器 i-Tracker,i-Probe 測量光筆標準工作距離為 6m,單站最遠測量距離可至 10m
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